Staliniai XRF spektrometrai

Prekybai, pramonei ir laboratorijoms: aukso bei sidabro lydinių sudėties nustatymas, dantų lydinių analizė, dangų storio matavimas paprastos formos bandiniams, kenksmingų medžiagų (pvz., švino žaisluose) patikra pagal RoHS. Detektorius, matavimo stalas ir versija parenkami pagal užduotį.

Galvanikos įmonėms ir elektronikos gamybai, kur reikia greitai ir tiksliai matuoti smulkių detalių dangų storį bei metalų kiekį galvaninėse voniose. Matavimas iš apačios į viršų leidžia greitai pozicionuoti didelius plokščius bandinius (PCB, lanksčias plokštes).

Galvanikos, aviacijos ir buitinės armatūros pramonei – masinės gamybos detalių kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai. Matavimo kryptis iš viršaus leidžia automatizuoti serijinius matavimus. XDLM su mikrofokusiniu vamzdžiu skirtas smulkioms detalėms, lengviesiems metalams

Elektronikos ir puslaidininkių gamybai (išvadų rėmeliai, jungtys, PCB), daugiasluoksnių sistemų ir funkcinių dangų ≤ 0,1 µm kontrolei, švino kiekiui lydmetaliuose ir fosforo kiekiui NiP dangose nustatyti. Gamintojas pristato kaip FISCHERSCOPE X-RAY XDAL įpėdinį.

Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukš