Staliniai XRF spektrometrai
Staliniai XRF spektrometrai
Staliniai XRF spektrometrai neardomuoju būdu matuoja dangų storį ir nustato medžiagų sudėtį – nuo galvaninių dangų iki aukso ir sidabro lydinių. Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius. XUL / XULM – pradinio lygio dangų storio matuokliai, XDL / XDLM – serijinei galvaninių dangų kontrolei. XDAL ir XDV skirti itin ploniems ir daugiasluoksniams sluoksniams. Modelį lemia matuojamų detalių dydis, dangų storis ir reikalaujamas tikslumas.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius
Prekybai, pramonei ir laboratorijoms: aukso bei sidabro lydinių sudėties nustatymas, dantų lydinių analizė, dangų storio matavimas paprastos formos bandiniams, kenksmingų medžiagų (pvz., švino žaisluose) patikra pagal RoHS.
PlačiauHelmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL – pradinio lygio dangų storio matuoklis
Galvanikos įmonėms ir elektronikos gamybai, kur reikia greitai ir tiksliai matuoti smulkių detalių dangų storį bei metalų kiekį galvaninėse voniose.
PlačiauHelmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM – serijinė galvaninių dangų kontrolė
Galvanikos, aviacijos ir buitinės armatūros pramonei – masinės gamybos detalių kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai.
PlačiauHelmut Fischer FISCHERSCOPE XDAL – naujos kartos plonų dangų analizatorius
Elektronikos ir puslaidininkių gamybai (išvadų rėmeliai, jungtys, PCB), daugiasluoksnių sistemų ir funkcinių dangų ≤ 0,1 µm kontrolei, švino kiekiui lydmetaliuose ir fosforo kiekiui NiP dangose nustatyti.
PlačiauHelmut Fischer FISCHERSCOPE XDV – aukščiausios klasės universalus XRF prietaisas
Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukščiausiais reikalavimais.
Plačiau