Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius
Kam skirta
Prekybai, pramonei ir laboratorijoms: aukso bei sidabro lydinių sudėties nustatymas, dantų lydinių analizė, dangų storio matavimas paprastos formos bandiniams, kenksmingų medžiagų (pvz., švino žaisluose) patikra pagal RoHS. Detektorius, matavimo stalas ir versija parenkami pagal užduotį.
Privalumai
- Didelis matavimo atstumas – bandiniai iki 17 cm aukščio, įskaitant sudėtingos geometrijos detales
- DPP+ procesorius trumpina matavimo laiką esant tam pačiam standartiniam nuokrypiui (išskyrus XAN 215)
- Vaizdo mikroskopas tiksliam matavimo taško parinkimui; pasirenkamas rankinis XY stalas
- Si-PIN arba SDD detektorius; RoHS versija su 50 mm² SDD
- Helio prapūtimas (XAN 250/252) lengvųjų elementų Mg, Al, Si matavimui
- WinFTM programinė įranga 15 kalbų
Modeliai
XAN 215 (pradinis, aukso ir sidabro lydiniai, be DPP+); XAN 220 / 250 (aukso prekybai su augančiais reikalavimais); XAN 250 / 252 (kenksmingų medžiagų analizė rafinavimui ir laboratorijoms)
Techniniai duomenys
- Rentgeno vamzdis: mikrofokusinis, volframo anodas
- Detektorius: Si-PIN arba SDD (RoHS versija – 50 mm² SDD)
- Bandinio aukštis: 90–170 mm (pagal modelį)
- Mažiausias matavimo taškas: apie Ø 0,3 mm
- Apertūros: fiksuota arba 4 keičiamos
- Pirminiai filtrai: fiksuotas arba 6 keičiami
- Funkciniai sluoksniai: nuo 10 nm (elektronika, puslaidininkiai)
- Programinė įranga: WinFTM
Ką gaunate iš mūsų
- Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
- Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų bandiniais
- Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją
Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: helmut-fischer.com
Jus taip pat gali dominti
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL – pradinio lygio dangų storio matuoklis
Galvanikos įmonėms ir elektronikos gamybai, kur reikia greitai ir tiksliai matuoti smulkių detalių dangų storį bei metalų kiekį galvaninėse voniose. Matavimas iš apačios į viršų leidžia greitai pozicionuoti didelius plokščius bandinius (PCB, lanksčias plokštes).
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM – serijinė galvaninių dangų kontrolė
Galvanikos, aviacijos ir buitinės armatūros pramonei – masinės gamybos detalių kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai. Matavimo kryptis iš viršaus leidžia automatizuoti serijinius matavimus. XDLM su mikrofokusiniu vamzdžiu skirtas smulkioms detalėms, lengviesiems metalams
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDAL – naujos kartos plonų dangų analizatorius
Elektronikos ir puslaidininkių gamybai (išvadų rėmeliai, jungtys, PCB), daugiasluoksnių sistemų ir funkcinių dangų ≤ 0,1 µm kontrolei, švino kiekiui lydmetaliuose ir fosforo kiekiui NiP dangose nustatyti. Gamintojas pristato kaip FISCHERSCOPE X-RAY XDAL įpėdinį.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV – aukščiausios klasės universalus XRF prietaisas
Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukš