XRF mikrostruktūroms ir PCB

Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ serija – mikrostruktūrų matavimas polikapiliarine optika

Elektronikos ir puslaidininkių pramonei – takelių, kontaktų, išvadų rėmelių, SMD komponentų, plonų laidų ir sudėtingų daugiasluoksnių sistemų matavimui; fosforo kiekiui cheminio nikelio sluoksniuose po auksu ir paladžiu (ENIG/ENEPIG). Fischer yra vienintelis XRF gamintojas, turintis nuosavą polikapi

More

Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV-µ PCB XL – spausdintinių plokščių dangų kontrolė

PCB gamintojams ir EMS įmonėms, kontroliuojantiems plonas galutines dangas (ENIG, ENEPIG, imersinis Ag ir Sn) ant didelių plokščių. PCB XL – stalinis prietaisas, valdomas rankiniu, pusiau automatiniu arba pilnai automatiniu režimu, pritaikytas integracijai į automatizuotas linijas (Smart Factory). P

More

Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI – automatinė plokštelių mikrostruktūrų kontrolė

Puslaidininkių gamybai ir pakavimui (2.5D/3D) – nanometrinių bazinių metalizacijų (UBM), C4 ir mažesnių lydmetalio rutuliukų, bešvinių lydmetalio dangtelių ant vario stulpelių kontrolei. Uždara matavimo aplinka užtikrina pastovias sąlygas, prietaisas tinka švarioms patalpoms ir 24/7 darbui.

More