Matavimo technologijos
  • MATAVIMO PRIETAISAI
    • Dangų storio matavimas
      • Dangų storio matuokliai
      • Elektrinio laidumo matuokliai
      • Fototerminiai dangų storio matuokliai
      • Kulometrinis dangų storio matavimas
      • Zondai, etalonai ir priedai
    • Metalų ir aukso analizė (XRF)
      • Automatizuotos XRF sistemos
      • Rankiniai XRF analizatoriai
      • Staliniai XRF spektrometrai
      • XRF aukso analizatoriai
      • XRF mikrostruktūroms ir PCB
      • XRF programinė įranga ir etalonai
    • Kietumo matavimas
      • Automatiniai kietumo matuokliai
      • CHD analizatoriai
      • Įspaudų skaitytuvai ir etalonai
      • Kietumo matavimo programinė įranga
      • Mikrokietumo matuokliai
      • Nešiojami kietumo matuokliai
      • Rockwell kietumo matuokliai
      • Staliniai kietumo matuokliai
      • Universalūs kietumo matuokliai
    • Metalografija
      • Eksploatacinės medžiagos
      • Elektrolitinis poliravimas ir ėsdinimas
      • Karšto presavimo presai
      • Pjovimo staklės
      • Programinė įranga ir optinė analizė
      • Šlifavimo ir poliravimo staklės
    • Defektų paieška (NDT)
      • Įtrūkimų gylio matuokliai
      • Kapiliarinė defektoskopija (PT)
      • Magnetinės indukcijos kontrolė
      • Magnetinių dalelių defektoskopija (MT)
      • Sūkurinių srovių defektoskopai (ET)
      • Magnetinio lauko ir pralaidumo matavimas
      • Ultragarsiniai bandymai (UT)
    • Matmenų matavimas
      • Aukščio matuokliai
      • Optiniai matavimo įrenginiai
      • Skaitmeniniai indikatoriai
      • Skaitmeniniai mikrometrai
      • Skaitmeniniai slankmačiai
      • Koordinatinės matavimo mašinos (CMM)
      • Vidmačiai
      • Nešiojamos matavimo rankos
      • Matavimo ir kalibravimo stendai
    • Ferito kiekio matavimas
  • APIE MUS
  • AKTUALIJOS
  • KONTAKTAI
Matavimo technologijos
  • Lietuvos
    • English
  • MATAVIMO PRIETAISAI
    • Dangų storio matavimas
      • Dangų storio matuokliai
      • Elektrinio laidumo matuokliai
      • Fototerminiai dangų storio matuokliai
      • Kulometrinis dangų storio matavimas
      • Zondai, etalonai ir priedai
    • Metalų ir aukso analizė (XRF)
      • Automatizuotos XRF sistemos
      • Rankiniai XRF analizatoriai
      • Staliniai XRF spektrometrai
      • XRF aukso analizatoriai
      • XRF mikrostruktūroms ir PCB
      • XRF programinė įranga ir etalonai
    • Kietumo matavimas
      • Automatiniai kietumo matuokliai
      • CHD analizatoriai
      • Įspaudų skaitytuvai ir etalonai
      • Kietumo matavimo programinė įranga
      • Mikrokietumo matuokliai
      • Nešiojami kietumo matuokliai
      • Rockwell kietumo matuokliai
      • Staliniai kietumo matuokliai
      • Universalūs kietumo matuokliai
    • Metalografija
      • Eksploatacinės medžiagos
      • Elektrolitinis poliravimas ir ėsdinimas
      • Karšto presavimo presai
      • Pjovimo staklės
      • Programinė įranga ir optinė analizė
      • Šlifavimo ir poliravimo staklės
    • Defektų paieška (NDT)
      • Įtrūkimų gylio matuokliai
      • Kapiliarinė defektoskopija (PT)
      • Magnetinės indukcijos kontrolė
      • Magnetinių dalelių defektoskopija (MT)
      • Sūkurinių srovių defektoskopai (ET)
      • Magnetinio lauko ir pralaidumo matavimas
      • Ultragarsiniai bandymai (UT)
    • Matmenų matavimas
      • Aukščio matuokliai
      • Optiniai matavimo įrenginiai
      • Skaitmeniniai indikatoriai
      • Skaitmeniniai mikrometrai
      • Skaitmeniniai slankmačiai
      • Koordinatinės matavimo mašinos (CMM)
      • Vidmačiai
      • Nešiojamos matavimo rankos
      • Matavimo ir kalibravimo stendai
    • Ferito kiekio matavimas
  • APIE MUS
  • AKTUALIJOS
  • KONTAKTAI
Pradžia / Aktualijos

Naujiena: FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL – XRF dangų kontrolė didelėms spausdintinėms plokštėms

Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV-µ PCB XL XRF prietaisas

Helmut Fischer pristatė FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL – stalinį XRF prietaisą ENIG, ENEPIG, sidabro ir alavo dangoms matuoti spausdintinėse plokštėse iki 610 × 610 mm.

Plačiau

Juvelyrinių dirbinių gamintojams: aukso praba per 60 sekundžių – GOLDSCOPE SD® 520 už specialią kainą

Aukso juvelyriniai dirbiniai – prabos ir lydinio sudėties tikrinimas XRF metodu

Helmut Fischer GOLDSCOPE SD® 520 XRF analizatorius juvelyrinių dirbinių gamintojams: praba ir lydinio sudėtis per 60 s nepažeidžiant gaminio. Speciali kaina 24 000 Eur be PVM – užsakant iki 2026 m. gruodžio 22 d.

Plačiau

Reikia specifinio sprendimo?

SUSISIEKIME
© 2026 | UAB „Matavimo technologijos“| J. Galvydžio g. 3, Vilnius, LT-08236 | +370 620 53325 | El. paštas info@m-technologijos.lt | Privatumo politika Sukurta: Pixel House
Naudojame būtinuosius slapukus, o statistikos ir rinkodaros slapukus – tik jums sutikus. Sutikimą bet kada galite atšaukti ištrynę slapukus naršyklėje.