Naujiena: FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL – XRF dangų kontrolė didelėms spausdintinėms plokštėms
Helmut Fischer pristatė naują FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL – stalinį XRF prietaisą dangų storiui ir smulkioms struktūroms matuoti didelių formatų spausdintinėse plokštėse (PCB). Jis skirtas plokštėms, kurių standartinės sistemos nebepajėgia sutalpinti: matavimo plotas – 610 × 610 mm, didžiausias savo klasėje.
Kam skirtas
PCB gamintojams ir elektronikos surinkimo (EMS) įmonėms, kurios kontroliuoja ploniausias galutines dangas – ENIG, ENEPIG, imersinį sidabrą ar alavą – ir smulkiausias struktūras didelėse plokštėse. Prietaisas veikia rankiniu, pusiau automatiniu arba visiškai automatiniu režimu, gali būti naudojamas atskirai arba integruojamas į automatizuotą gamybos liniją.
Didelė plokštė – viena padėtis
XDV®-µ PCB XL yra didesnė patikimo FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB versija. Dėl 610 × 610 mm (24 × 24 in) matavimo ploto visą plokštę užtenka padėti vieną kartą – nereikia jos perkelti tarp matavimų. Pasirinktinai tiekiamas vakuuminis laikiklis patikimai prilaiko net ploniausias ir lanksčias plokštes.
Greitesnis ir patogesnis darbas
- Stalo ištraukimas kojiniu jungikliu – abi rankos lieka laisvos, todėl dideles plokštes dėti ir išimti saugiau ir greičiau.
- Automatinis vaizdo atpažinimas – prietaisas pats suranda tinkamą matavimo vietą, pagreitina matavimo programas ir sumažina operatoriaus įsikišimą.
- Tvirta konstrukcija – pramoniniai komponentai ir patikrintas ilgaamžis rėmas užtikrina stabilumą ir ilgalaikį rezultatų pakartojamumą.
- Atitiktis IPC – matavimai atitinka IPC 4552 ir 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (sidabras) ir 4554 (alavas) standartus.
Techninės savybės
| Parametras | FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL |
|---|---|
| Matavimo stalas | didelio tikslumo, programuojamas, plokštėms iki 610 × 610 mm; pasirinktinai su vakuuminiu laikikliu |
| Rentgeno vamzdis | mikrofokuso „Ultra“, volframo anodas; pasirinktinai – molibdeno |
| Optika | polikapiliarinė, gaminama pačios Fischer; matavimo dėmė apie Ø 10 µm arba 17 µm (FWHM) |
| Detektorius | silicio dreifo (SDD), 20 mm² arba 50 mm²; DPP+ – didelis tikslumas net trumpais matavimais |
| Filtrai | 4 keičiami |
| Bandinio aukštis | iki 10 mm |
| Taikymas | labai plonos dangos, pvz., aukso / paladžio sluoksniai ≤ 3 nm arba 10 nm; automatizuota kokybės kontrolė |
Išbandykite su savo plokštėmis
Jei abejojate, ar prietaisas tiks jūsų plokštėms ir dangoms, galime suorganizuoti jūsų bandinių matavimą Helmut Fischer laboratorijoje. Kartu su gamintoju parinksime tinkamą konfigūraciją – optiką, detektorių ir priedus. Daugiau apie prietaisą – FISCHERSCOPE XDV-µ PCB XL puslapyje.
Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: helmut-fischer.com