Skip to content
Pradžia / Metalų ir aukso analizė (XRF)

Metalų ir aukso analizė (XRF)

Metalų ir aukso analizė (XRF)

Rentgeno fluorescencinė analizė (XRF) – neardomosios kontrolės metodas, kuriuo nustatoma medžiagos elementinė sudėtis ir dangų storis. Bandinį apšvitinus rentgeno spinduliuote, kiekvienas elementas skleidžia jam būdingos energijos fluorescenciją; detektorius ją registruoja, o programinė įranga apskaičiuoja lydinio sudėtį (pvz., aukso prabą) arba dangos storį. Matavimas neliečia ir nepažeidžia bandinio, nereikalauja cheminio paruošimo, trunka nuo kelių sekundžių iki kelių minučių.
Helmut Fischer XRF prietaisai skirti juvelyrams, lombardams, tauriųjų metalų prekybai ir rafinavimui, galvanikos įmonėms (dangų storis, vonių metalų koncentracija), elektronikos ir spausdintinių plokščių (PCB) gamybai, puslaidininkių pramonei, bandymų laboratorijoms ir RoHS kontrolei.
Kaip rinktis:

Detektorius. Proporcinis skaitiklis (PC) – greitas, pigesnis, tinka storesnėms galvaninėms dangoms; Si-PIN – pradinio lygio lydinių analizei; silicio dreifo detektorius (SDD, 20 arba 50 mm²) – aukšta skiriamoji geba, ploniausios dangos, pėdsakų analizė, RoHS.
Stalinis ar rankinis. Staliniai prietaisai – pilnos apsaugos tipo patvirtinti įrenginiai laboratorijai ir gamybai; rankinis XAN 500 – stambių detalių ir lauko sąlygoms.
Matavimo kameros dydis: bandinio aukštis nuo 90 iki 170 mm, PCB stalai iki 610 × 610 mm, moduliuojamos kameros iki 1,5 m³.
Matavimo kryptis: iš apačios į viršų (greitas pozicionavimas) arba iš viršaus (automatizuotos serijos, programuojamas XY stalas).
Programinė įranga: WinFTM arba naujoji FISIQ X (XDAL / XDV kartai).

Užklausoje nurodykite: matuojamas medžiagas ir dangų sistemas (pvz., Au/Ni/Cu), tikėtiną storio diapazoną, bandinių matmenis ir formą, mažiausią matuojamą struktūrą, reikalingą pralaidumą (vnt./val.), ar reikia automatizavimo, RoHS ar lydinių analizės.

Automatizuotos XRF sistemos

Automatizuotos XRF sistemos matuoja dangų storį ir sudėtį tiesiai gamybos procese, o ne laboratorijoje. Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY 4000 skirta juostinei galvanikai, elektriniams kontaktams ir išvadų rėmeliams. X-RAY 5000 tinka plonų sluoksnių kontrolei fotovoltaikos, kuro elementų, stiklo ir folijų gamyboje. XAN Liquid Analyzer nuolat analizuoja galvaninių vonių sudėtį ir gali pakeisti rankinį titravimą. Tokios sistemos leidžia anksti pastebėti nuokrypius ir mažinti broką.
Plačiau

Rankiniai XRF analizatoriai

Rankinis XRF analizatorius reikalingas tada, kai detalė per didelė staliniam prietaisui arba matuoti reikia ne laboratorijoje. Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 – nešiojamas analizatorius kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai. Juo galima tirti stambias detales, pavyzdžiui, vamzdžius, korpusus ir mašinų komponentus.
Plačiau

Staliniai XRF spektrometrai

Staliniai XRF spektrometrai neardomuoju būdu matuoja dangų storį ir nustato medžiagų sudėtį – nuo galvaninių dangų iki aukso ir sidabro lydinių. Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius. XUL / XULM – pradinio lygio dangų storio matuokliai, XDL / XDLM – serijinei galvaninių dangų kontrolei. XDAL ir XDV skirti itin ploniems ir daugiasluoksniams sluoksniams. Modelį lemia matuojamų detalių dydis, dangų storis ir reikalaujamas tikslumas.
Plačiau

XRF aukso analizatoriai

XRF aukso analizatoriai per kelias dešimtis sekundžių nustato aukso, sidabro ir kitų tauriųjų metalų kiekį lydinyje, nepažeisdami gaminio. Helmut Fischer GOLDSCOPE SD skirtas juvelyrikos dirbtuvėms, lombardams, aukso supirkėjams, bandymų laboratorijoms ir dantų lydinių gamintojams. GOLDSCOPE SD 600 – galingiausias modelis didesniam tikslumui ir stambesnėms detalėms.
Plačiau

XRF mikrostruktūroms ir PCB

Elektronikos ir puslaidininkių gamyboje dangos matuojamos labai mažuose plotuose: takeliuose, kontaktuose, SMD komponentuose, išvadų rėmeliuose. Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV-µ prietaisai su polikapiliarine optika sufokusuoja rentgeno spindulį į labai mažą dėmę. XDV-µ PCB XL skirtas didelėms spausdintinėms plokštėms (ENIG, ENEPIG, imersinis Ag ir Sn), o XDV-µ SEMI – automatinei puslaidininkių plokštelių kontrolei.
Plačiau

XRF programinė įranga ir etalonai

Helmut Fischer FISIQ X – naujos kartos programinė įranga FISCHERSCOPE XDAL ir XDV prietaisams. Ji skirta dangų storio matavimui ir medžiagų analizei, supaprastina darbo eigą ir padeda greičiau gauti rezultatus. Etalonus XRF prietaisų kalibravimui rasite skyriuje „Zondai, etalonai ir priedai“.
Plačiau