Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL – pradinio lygio dangų storio matuoklis
Kam skirta
Galvanikos įmonėms ir elektronikos gamybai, kur reikia greitai ir tiksliai matuoti smulkių detalių dangų storį bei metalų kiekį galvaninėse voniose. Matavimas iš apačios į viršų leidžia greitai pozicionuoti didelius plokščius bandinius (PCB, lanksčias plokštes).
Privalumai
- Didžiausias matavimo langas rinkoje (proporcinio skaitiklio detektorius) – trumpas matavimo laikas
- Gaubtas su C formos išpjova dideliems plokštiems bandiniams
- Mikrofokusinis vamzdis, mažiausias matavimo taškas apie Ø 0,1 mm
- Tiesioginis matavimo taško vaizdas
- Greitas paleidimas, optimalus kainos ir naudos santykis
- Pilnos apsaugos tipo patvirtintas įrenginys
Modeliai
XUL; XULM (minimas XULM 240)
Techniniai duomenys
- Detektorius: proporcinis skaitiklis
- Rentgeno vamzdis: mikrofokusinis
- Bandinio aukštis: iki 170 mm
- Mažiausias matavimo taškas: apie Ø 0,1 mm
- Apertūros: fiksuota arba 4 keičiamos
- Filtrai: fiksuotas arba 3 keičiami
- Programinė įranga: WinFTM
Ką gaunate iš mūsų
- Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
- Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų bandiniais
- Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją
Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: helmut-fischer.com
Jus taip pat gali dominti
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius
Prekybai, pramonei ir laboratorijoms: aukso bei sidabro lydinių sudėties nustatymas, dantų lydinių analizė, dangų storio matavimas paprastos formos bandiniams, kenksmingų medžiagų (pvz., švino žaisluose) patikra pagal RoHS. Detektorius, matavimo stalas ir versija parenkami pagal užduotį.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM – serijinė galvaninių dangų kontrolė
Galvanikos, aviacijos ir buitinės armatūros pramonei – masinės gamybos detalių kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai. Matavimo kryptis iš viršaus leidžia automatizuoti serijinius matavimus. XDLM su mikrofokusiniu vamzdžiu skirtas smulkioms detalėms, lengviesiems metalams
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDAL – naujos kartos plonų dangų analizatorius
Elektronikos ir puslaidininkių gamybai (išvadų rėmeliai, jungtys, PCB), daugiasluoksnių sistemų ir funkcinių dangų ≤ 0,1 µm kontrolei, švino kiekiui lydmetaliuose ir fosforo kiekiui NiP dangose nustatyti. Gamintojas pristato kaip FISCHERSCOPE X-RAY XDAL įpėdinį.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV – aukščiausios klasės universalus XRF prietaisas
Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukš