Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL – pradinio lygio dangų storio matuoklis
Kam skirta
Galvanikos įmonėms ir elektronikos gamybai, kur reikia greitai ir tiksliai matuoti smulkių detalių dangų storį bei metalų kiekį galvaninėse voniose. Matavimas iš apačios į viršų leidžia greitai pozicionuoti didelius plokščius bandinius (PCB, lanksčias plokštes).
Privalumai
- Didžiausias matavimo langas rinkoje (proporcinio skaitiklio detektorius) – trumpas matavimo laikas
- Gaubtas su C formos išpjova dideliems plokštiems bandiniams
- Mikrofokusinis vamzdis, mažiausias matavimo taškas apie Ø 0,1 mm
- Tiesioginis matavimo taško vaizdas
- Greitas paleidimas, optimalus kainos ir naudos santykis
- Pilnos apsaugos tipo patvirtintas įrenginys
Modeliai
XUL; XULM
Techniniai duomenys
- Detektorius: proporcinis skaitiklis
- Rentgeno vamzdis: mikrofokusinis
- Bandinio aukštis: iki 170 mm
- Mažiausias matavimo taškas: apie Ø 0,1 mm
- Apertūros: fiksuota arba 4 keičiamos
- Filtrai: fiksuotas arba 3 keičiami
- Programinė įranga: WinFTM
Ką gaunate iš mūsų
- Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
- Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų bandiniais
- Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją
Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: helmut-fischer.com
Jus taip pat gali dominti
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius
Prekybai, pramonei ir laboratorijoms: aukso bei sidabro lydinių sudėties nustatymas, dantų lydinių analizė, dangų storio matavimas paprastos formos bandiniams, kenksmingų medžiagų (pvz., švino žaisluose) patikra pagal RoHS.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM – serijinė galvaninių dangų kontrolė
Galvanikos, aviacijos ir buitinės armatūros pramonei – masinės gamybos detalių kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDAL – naujos kartos plonų dangų analizatorius
Elektronikos ir puslaidininkių gamybai (išvadų rėmeliai, jungtys, PCB), daugiasluoksnių sistemų ir funkcinių dangų ≤ 0,1 µm kontrolei, švino kiekiui lydmetaliuose ir fosforo kiekiui NiP dangose nustatyti.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV – aukščiausios klasės universalus XRF prietaisas
Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukščiausiais reikalavimais.