Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV – aukščiausios klasės universalus XRF prietaisas

Kam skirta

Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukščiausiais reikalavimais. Ankstesnė karta XDV-SDD – universalus prietaisas nuo plonų sluoksnių iki RoHS patikros pagal RoHS, WEEE, CPSIA.

Privalumai

• Greitaeigė Z ašis (6 kartus greitesnė nei XDV-SDD), autofokusas < 2 s
• 10 kartų didesnės raiškos kamera, daugiazonis LED apšvietimas matiniams ir blizgiems paviršiams
• FISIQ X programinė įranga su DI spektrų režimu
• Motorizuotas gaubtas, programuojamas matavimo stalas
• Individualiai patvirtintas pilnos apsaugos įrenginys
• XDV-SDD: DPP+ iki 50 % didesnis našumas, apertūra iki 3 mm, taškas apie Ø 0,25 mm

Modeliai

XDV (nauja karta, FISIQ X); X-RAY XDV-SDD (ankstesnė karta, WinFTM)

Techniniai duomenys

• Rentgeno vamzdis: mikrofokusinis, volframo anodas (kiti anodai pagal užklausą)
• Detektorius: SDD 50 mm²
• Apertūros / filtrai: 4 keičiamos / 6 keičiami
• Bandinio aukštis: iki 140 mm
• Matavimo kryptis: iš viršaus, bepakopis atstumas
• Autofokusas: < 2 s
• XDV-SDD matavimo taškas: apie Ø 0,25 mm
• Programinė įranga: FISIQ X (XDV) / WinFTM (XDV-SDD)

Ką gaunate iš mūsų

• Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
• Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų bandiniais
• Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją

Gauti pasiūlymą

Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: helmut-fischer.com, helmut-fischer.com