Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV – aukščiausios klasės universalus XRF prietaisas
Kam skirta
Laboratorijoms ir gamybai, kur matuojamos itin plonos ir sudėtingos dangos (Au/Pd ≤ 50 nm, auksas nuo 2 nm ant išvadų rėmelių, dangos ant silicio plokštelių), analizuojami lengvieji elementai (Al, Ti, NiP), kuro elementų ir baterijų folijos (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) ir atliekama aukso analizė su aukščiausiais reikalavimais. Ankstesnė karta XDV-SDD – universalus prietaisas nuo plonų sluoksnių iki RoHS patikros pagal RoHS, WEEE, CPSIA.
Privalumai
- Greitaeigė Z ašis (6 kartus greitesnė nei XDV-SDD), autofokusas < 2 s
- 10 kartų didesnės raiškos kamera, daugiazonis LED apšvietimas matiniams ir blizgiems paviršiams
- FISIQ X programinė įranga su DI spektrų režimu
- Motorizuotas gaubtas, programuojamas matavimo stalas
- Individualiai patvirtintas pilnos apsaugos įrenginys
- XDV-SDD: DPP+ iki 50 % didesnis našumas, apertūra iki 3 mm, taškas apie Ø 0,25 mm
Modeliai
XDV (nauja karta, FISIQ X); X-RAY XDV-SDD (ankstesnė karta, WinFTM)
Techniniai duomenys
- Rentgeno vamzdis: mikrofokusinis, volframo anodas (kiti anodai pagal užklausą)
- Detektorius: SDD 50 mm²
- Apertūros / filtrai: 4 keičiamos / 6 keičiami
- Bandinio aukštis: iki 140 mm
- Matavimo kryptis: iš viršaus, bepakopis atstumas
- Autofokusas: < 2 s
- XDV-SDD matavimo taškas: apie Ø 0,25 mm
- Programinė įranga: FISIQ X (XDV) / WinFTM (XDV-SDD)
Ką gaunate iš mūsų
- Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
- Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų bandiniais
- Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją
Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: helmut-fischer.com, helmut-fischer.com
Jus taip pat gali dominti
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN – universalus metalų ir lydinių analizatorius
Prekybai, pramonei ir laboratorijoms: aukso bei sidabro lydinių sudėties nustatymas, dantų lydinių analizė, dangų storio matavimas paprastos formos bandiniams, kenksmingų medžiagų (pvz., švino žaisluose) patikra pagal RoHS. Detektorius, matavimo stalas ir versija parenkami pagal užduotį.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDAL – naujos kartos plonų dangų analizatorius
Elektronikos ir puslaidininkių gamybai (išvadų rėmeliai, jungtys, PCB), daugiasluoksnių sistemų ir funkcinių dangų ≤ 0,1 µm kontrolei, švino kiekiui lydmetaliuose ir fosforo kiekiui NiP dangose nustatyti. Gamintojas pristato kaip FISCHERSCOPE X-RAY XDAL įpėdinį.
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL – pradinio lygio dangų storio matuoklis
Galvanikos įmonėms ir elektronikos gamybai, kur reikia greitai ir tiksliai matuoti smulkių detalių dangų storį bei metalų kiekį galvaninėse voniose. Matavimas iš apačios į viršų leidžia greitai pozicionuoti didelius plokščius bandinius (PCB, lanksčias plokštes).
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM – serijinė galvaninių dangų kontrolė
Galvanikos, aviacijos ir buitinės armatūros pramonei – masinės gamybos detalių kokybės kontrolei, įeinančių prekių patikrai ir gamybos stebėsenai. Matavimo kryptis iš viršaus leidžia automatizuoti serijinius matavimus. XDLM su mikrofokusiniu vamzdžiu skirtas smulkioms detalėms, lengviesiems metalams