Trimos TR Scan Compact Z – bekontaktė aukščio matavimo kolona

Kam skirta

Bekontakčiams aukščio matavimams ant įvairių medžiagų – auksinių, minkštų ir skaidrių paviršių – bei vietose, kurių nepasiekia įprastas kontaktinis zondas. Chromatinė konfokalinė taškinė technologija (CCMP) kartu su skaitmenine kamera leidžia matyti „virtualaus rutuliuko“ matavimo tašką ant detalės. Itin greita Z matavimo sistema (2000 Hz) leidžia dinamiškai matuoti aukštį ant judančių detalių, o X/Y matavimo sistema stale (pasirinktinai) – greitai ir tiksliai pozicionuoti.

Privalumai

  • Bekontaktis matavimas
  • Intuityvus kameros valdymas, reguliuojamas ryškumas
  • Aukščio, skirtumo, min. ir maks. matavimai
  • Greiti judesiai, paprasta programa
  • Didelis tikslumas
  • Matavimai ant judančių detalių

Techniniai duomenys

Parametras TR Scan Compact Z
Darbinis atstumas 31,8 mm
Matavimo diapazonas 8 mm
Skiriamoji geba 0,1 µm
Skaitinė apertūra 0,25
Didžiausias matavimo kampas 90° ± 15°
Taško dydis 15 µm
MPE 0,6 µm
X/Y matavimo sistema inkrementinė, 1 µm skiriamoji geba, MPE ~10 µm
Kamera spalvota CMOS, 1600 × 1200, matymo laukas 7 × 5,25 mm
Sąsaja 2 × USB 2.0

Ką gaunate iš mūsų

  • Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
  • Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų detalėmis
  • Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją

Gauti pasiūlymą

Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: trimos.com

Jus taip pat gali dominti

Sylvac-SCAN S25T / S65L / S145L – optiniai matavimo įrenginiai cilindrinėms detalėms

Tekinimo cechams, sraigtų, velenų, jungiklių, medicininių implantų ir automobilių dalių gamintojams, kur reikia per kelias sekundes išmatuoti dešimtis cilindrinės detalės parametrų (skersmenys, ilgiai, kampai, spinduliai, sriegiai, mušimas).

Trimos TR Scan Premium – greitas 3D paviršiaus matavimo sistema

Jautriausių paviršių 3D matavimas didžiuliu greičiu ir nanometriniu tikslumu – kai kontaktinis matavimas pasiekia ribas.

Trimos TR Scan Compact WLI – baltos šviesos interferometras paviršiaus matavimams

Kompaktiškas bekontaktis 3D paviršiaus matavimo prietaisas laboratorijai su subnanometrine skiriamąja geba.