Trimos TR Scan Premium – greitas 3D paviršiaus matavimo sistema

Kam skirta

Jautrių paviršių matavimams aukštųjų technologijų srityse, kur kontaktinis matavimas pasiekia ribas: medicinos priemonės ir protezai, plokštelės (wafer), MEMS, puslaidininkiai, metalinės dangos, polimerinės plėvelės, optiniai komponentai, moksliniai tyrimai ir kokybės kontrolė. Pagrindiniai privalumai – itin didelis matavimo greitis ir nanometrinis tikslumas.

Privalumai

  • Bekontaktis matavimas
  • Išskirtinis matavimo greitis
  • Nanometrinė skiriamoji geba
  • Pažangi programinė įranga
  • Iš anksto paruošti matavimo šablonai
  • Suderinama su 2D ir 3D standartais
  • Keičiami objektyvai arba revolverinė galvutė

Techniniai duomenys

Parametras CCM-L1 0,2 mm CCM-L1 1 mm CCM-L1 4 mm
Vertikalus matavimo diapazonas 200 µm 0,95 mm 3,9 mm
Linijos plotis 0,96 mm 1,91 mm 4,78 mm
Šoninis žingsnis 5 µm 10 µm 25 µm
Darbinis atstumas 5,3 mm 18,5 mm 41 mm
Šoninė skiriamoji geba 1 µm 2 µm 5 µm
Tikslumas ± 80 nm ± 300 nm ± 1,2 µm
Didžiausias matavimo kampas 90° ± 44° 90° ± 33° 90° ± 20°
Storio matavimo diapazonas 20–280 µm 75 µm – 1,35 mm 300 µm – 5,5 mm
Mažiausias matuojamas Ra < 0,1 µm < 0,8 µm –

Ką gaunate iš mūsų

  • Įrenginio ir komplektacijos parinkimas kartu su gamintoju pagal jūsų užduotį
  • Bandomieji matavimai gamintojo laboratorijoje su jūsų detalėmis
  • Apmokymo, kalibravimo ir serviso organizavimas per gamintoją

Gauti pasiūlymą

Techniniai duomenys pagal gamintojo informaciją: trimos.com

Jus taip pat gali dominti

Sylvac-SCAN S25T / S65L / S145L – optiniai matavimo įrenginiai cilindrinėms detalėms

Tekinimo cechams, sraigtų, velenų, jungiklių, medicininių implantų ir automobilių dalių gamintojams, kur reikia per kelias sekundes išmatuoti dešimtis cilindrinės detalės parametrų (skersmenys, ilgiai, kampai, spinduliai, sriegiai, mušimas).

Trimos TR Scan Compact Z – bekontaktė aukščio matavimo kolona

Miniatiūrinė bekontaktė aukščio matavimo kolona su chromatiniu konfokaliniu jutikliu ir kamera.

Trimos TR Scan Compact WLI – baltos šviesos interferometras paviršiaus matavimams

Kompaktiškas bekontaktis 3D paviršiaus matavimo prietaisas laboratorijai su subnanometrine skiriamąja geba.