Aukšto kalibro FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

Helmut Fischer pristato vieną iš gaminamų galingiausių rentgeno fluorescencijos prietaisų.

XRF spektrometras FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD turi didelės raiškos ir galingą silicio dreifo detektorių (SDD), kurio efektyvusis plotas yra 50 mm². Tai leidžia itin tiksliai išmatuoti net ploniausius medžiagų sluoksnius.

Naujas skaitmeninis impulsų procesorius DPP+ geba apdoroti daug daugiau matavimų rodiklių, todėl matavimo laikas ženkliai sutrumpėja.

XDV-SDD puikiai tinka neardomajai medžiagų kontrolei. XDV-SDD turi keičiamus kolimatorius ir pirminius filtrus, įrenginio valdymas yra paprastas ir intuityvus, matavimus lengva valdyti vairasvirte ir mygtukais, XDV-SDD specialiai sukurtas serijiniams bandymams pramonėje.

Daugiau apie prietaisą:XRF Film Thickness Measurement | Powerful X-ray Fluorescence Analyzers (helmut-fischer.com)